Systemy UHV

Dostarczamy i instalujemy produkty firmy Scienta Omicron GmbH – światowego lidera wśród dostawców wyspecjalizowanych systemów oraz komponentów UHV stosowanych w badaniach fizykochemicznych ciał stałych i w nanotechnologii.
Firma powstała z połączenia dwóch znanych marek z branży urządzeń UHV – Omicron NanoTechnology i VG Scienta.
Rozwiązania Scienta Omicron umożliwiają prowadzenie badań w dziedzinie fizyki powierzchni i nanotechnologii na najwyższym światowym poziomie – produkty firmy zostały dotąd wymienione jako instrumentarium w ponad 750 pracach opublikowanych m.in. w Nature, Science, Physical Review Letters czy Chemical Review Letters.

Oferta firmy Scienta Omicron obejmuje:

Mikroskopy z rodziny SPM (STM, AFM i techniki pokrewne)

Spektroskopia elektronów (XPS, UPS, AES)

• analizatory energii
• źródła rentgenowskie, źródła UV, działa jonowe i elektronowe
  LEED, RHEED

Nanoszenie cienkich warstw w tym systemy MBE, PLD, PVD

• komórki efuzyjne
• naparowarki elektronowe
• źródła specjalne

Aparatura wielozadaniowa

• modułowa i kompaktowa budowa
• umożliwia zastosowanie ponad 30 technik eksperymentalnych
• na świecie zainstalowanych ponad 1000 urządzeń
• projektowane na specjalne zamówienie

Zapraszamy na stronę producenta  http://www.scientaomicron.com

Model aparatury Scienta Omicron zainstalowanej we Wrocławskim Centrum badań EIT+. Urządzenie składa się z dwoch komor MBE i jednej analitycznej.

Glosariusz

UHV – Ultra High Vacuum – ultrawysoka próżnia; zakres ciśnień poniżej 10^-8 mbar

SPM – Scanning Probe Microscopy – mikroskopia bliskich oddziaływań; Obejmuje następujące techniki:
STM – Scanning Tunneling Microscopy – mikroskopia tunelowa
AFM – Atomic Force Microscopy – mikroskopia sił atomowych (Wersja tradycyjna z pomiarem ugięcia wiązki laserowej lub z sondą QPlus)
FFM – Friction Force Microscope – mikroskopia sił tarcia
LFM – Lateral Force Microscopy – mikroskopia sił poprzecznych
SKPM – Scanning Kelvin Probe Microscopy – mikroskopia sił z sondą Kelvina
MFM – Magnetic Force Microscopy – mikroskopia sił magnetycznych
EFM – Electrostatic Force Microscopy – mikroskopia sił elektrostatycznych
STS – Scanning Tunneling Spectroscopy – spektroskopia tunelowa

XPS – X-ray Photoelectron Spectroscopy – rentgenowska spektroskopia fotoelektronow
ESCA – Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
UPS – Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy – ultrafioletowa spektroskopia fotoelektronow
AES – Auger Electron Spectroscopy – spektroskopia elektronow Augera
ARPES – Angle Resolved Photoelectron Spectroscopy – spektroskopia fotoelektronow z zaleznością kątową
PEEM – Photoemission Electron Microscopy – mikroskopia elektronow fotoemisyjnych
LEED – Low Energy Electron Diffraction – dyfrakcja elektronow niskoenergetycznych
RHEED – Reflection High-Energy Electron Diffraction – dyfrakcja odbiciowa elektronow wysokoenergetycznych

MBE – Molecular Beam Epitaxy – epitaksja z wiązek molekularnych

Powrót do oferty